串聯(lián)諧振試驗(yàn)裝置常見故障
更新時(shí)間:2021-08-25 點(diǎn)擊次數(shù):851次
串聯(lián)諧振試驗(yàn)裝置常見故障
1、串聯(lián)諧振試驗(yàn)裝置閃絡(luò)現(xiàn)象
當(dāng)在氣體或液體電介質(zhì)中沿固體絕緣表面發(fā)生破壞性放電現(xiàn)象,中試控股稱之為閃絡(luò)。閃絡(luò)現(xiàn)象是指固體絕緣體周圍的氣體或液體電介質(zhì)被擊穿時(shí),擊穿電壓沿固體絕緣子 表面放電的現(xiàn)象。閃絡(luò)現(xiàn)象其放電時(shí)的電壓稱為閃絡(luò)電壓。絕緣體發(fā)生閃絡(luò)后,電極間的電壓迅中試控股速下降到零或接近于零,閃絡(luò)通道中的火花或電弧使絕緣表面局部過 熱造成炭化,損壞表面絕緣。
常見的是沿氣體與固體電介質(zhì)交界面發(fā)生的閃絡(luò)。如沿絕緣子串表面、沿套管表面的破壞性放電稱之為閃絡(luò)。閃絡(luò)這個(gè)詞用于特殊條件的放電現(xiàn)象。
2、串聯(lián)諧振試驗(yàn)裝置放電現(xiàn)象
放電現(xiàn)象是一個(gè)比較籠統(tǒng)的概念,一般是指在電場(chǎng)作用下,絕緣材料由絕緣狀態(tài)變?yōu)閷?dǎo)電狀態(tài)的躍變現(xiàn)象。中試控股這種躍變現(xiàn)象可能呈“貫通狀"發(fā)生在電極間,即其中 的絕緣材料*被短接而遭到破壞,中試控股此時(shí)電極間的電壓迅速下降到甚低至或接近零值稱其為破壞性放電;躍變現(xiàn)象也可能發(fā)生在電極間的局部區(qū)域,使其中的絕緣材 料局部被短接,其余部分仍有良好的絕緣性能,電極間電壓中試控股仍能維持一定的數(shù)值稱為局部放電。
破壞性放電和局部放電可以用于所有電介質(zhì)及其組合中,然而,放電發(fā)生在不同電介質(zhì)及其組合中時(shí)又有特殊的稱呼。當(dāng)在氣體或液體電介質(zhì)中,電極間發(fā)生的破壞性放電稱為火花放電,如在空氣間隙、油間隙發(fā)生的破壞性放電,確切的說應(yīng)該是火花放電。
在固體電介質(zhì)中發(fā)生破壞性放電時(shí),稱為擊穿。擊穿時(shí),在固體電介質(zhì)中留下痕跡,使固體電介質(zhì)失去絕緣性能。如絕緣紙板擊穿時(shí),會(huì)在紙板上留下一個(gè)孔。